Micron Technology（マイクロンテクノロジー）

半導体製造では微細な欠陥検出が歩留まりと品質に直結するが、人手による検査では精度とスピードに限界があった。

コンピュータビジョンによるウェーハ画像のリアルタイム解析、機械音の音響解析による設備異常検知、熱画像によるトランスフォーマー等の過熱監視を統合的に展開。

センサーデータの大量収集基盤を先に構築し、その上にAIを段階的に載せていく方法が全社展開を成功させる鍵となった。